产品详情
简单介绍：
布鲁克光谱为您的研究应用提供各种实验室傅立叶红外光谱仪。德国布鲁克研究级傅立叶变换红外光谱仪有多款种型号及配置如：INVENIO,VERTEX系列,IFS 125系列,CryoSAS,SiBrickScan等，可满足各种不同应用的需求。这里为您展示了多款德国布鲁克研究级傅立叶变换红外光谱仪产品图片、产品简介等信息，欢迎点击查看。如您欲了解更多德国布鲁克红外光谱仪信息，可联系上海铸金分析仪器有限公司。上海铸金期待与您交流，共同进步。
详情介绍：
德国布鲁克研究级傅立叶变换红外光谱仪
布鲁克光谱为您的研究应用提供各种实验室傅立叶红外光谱仪INVENIO 具有创 新技术及其智能精巧的设计为新一代傅立叶变换红外光谱仪树立了标准；VERTEX 系列光谱仪提供了**远见的可升级光学平台，尽您所想的灵活设计；IFS 125 系列 傅立叶红外光谱仪是傅立叶红外领域*优异的研究工具，它是世界上分辨率*高的上等商用红外光谱仪；CryoSAS 是半导体材料质量控制专用机型，主要应用在光伏和电子工业领域；SiBrickScan 是唯壹一款专用于定量分析硅锭的氧填隙原子从而得出浓度分布的傅立叶红外谱仪系统；CONFOCHECK是一款专注于水中蛋白质研究的傅立叶红外光谱仪，它非常适合于研究蛋白质的稳定性和蛋白质的构象；PMA 50 ?？榫哂屑叩牧榛钚院兔舾卸龋视糜诹悠竦髦坪焱夤馄子τ?，比如偏振调制掠角反射实验（PM-IRRAS）及手性分子振动（VCD）；TGA-FT-IR 模块上乘地结合了定量分析的热重分析仪和定性分析的红外光谱仪。
一、 德国布鲁克研究级傅立叶变换红外光谱仪入门级产品INVENIO
适用于常规红外和多光谱研究级应用的选择INVENIO 是布鲁克推出的研究级傅立叶变换红外（FTIR）光谱仪的入门级产品，以实现要求严苛的分析与研发应用。新技术及其智能精巧的设计为新一代傅立叶变换红外光谱仪树立了标准。。新的光路设计将带来优异的信噪比、较宽的光谱范围（覆盖从远红外至紫外/可见光谱区）和*高的灵活性，适用于各种复杂的实验配置。
?集成触控面板
您可以选择集成触控面板，轻松完成研发级工作。该触控面板不仅可左右移动，而且还能沿两个轴倾斜。触控面板PC 中安装了专用的 OPUS-TOUCH R&D 软件，有助于简化工作流程和实现直观操作。在优异研究应用工作中，还可连接台式电脑。
?MultiTect? 检测器技术
让人难以置信但千真万确的事实是，布鲁克新型的 MultiTect? 检测器技术可同时自动控制多达 5个室温检测器。MultiTect? 检测器单元可配置诸如DTGS、InGaAs、硅二极管或 GaP 等各种室温傅立叶变换红外（FTIR）检测器，从而覆盖从远红外至紫外/可见光的整个光谱区间。信号将由一个 24 位动态区间的双通道 ADC 直接进行数字化。额外的 DigiTect? 检测器插槽，可用于安装 MCT 或其它特殊检测器。
?Transit? 测量通道
INVENIO 可选择性地配置一个额外的透射通道，这样就无需移除主样品室中的大型附件装置，从而让您能够快速、方便地进行中红外光谱的测量。Transit? 通道中包含一个专用的中红外DTGS检测器，可以安装用于压片样品的支架、用于薄膜样品的磁性样品架、用于各类扁平状样品的夹具，以及大多数液体池附件。结合 MultiTect? 与DigiTect? 技术，INVENIO 可配置多达7个内部检测器，并可通过软件来自动选择这些检测器。
?光谱区间扩展
INVENIO 可选择性地配备光源、任意数量的分束器和检测器，已覆盖15 cm 至 28,000 cm，也就是从超远红外至中、近红外，再至可见光和紫外光的整个光谱区间。得益于长久准直的 RockSolid 干涉仪，布鲁克独有的 MultiTect 检测器技术，多个内部与外部光源位置和专用于多个光谱区间的光学元件，谱区扩展变成了一项十分简单的任务。
?独特的布鲁克FM技术
布鲁克的FM远中红外技术由其独有的超宽区间分束器和宽区间DTGS检测器组成。通过一次性测量，无需更换任何光学元件，即可生成完整的远红外与中红外光谱。结合标准内部红外光源与FM元件，足以覆盖从6000 cm-1 to 80 cm-1的宽区间。
?新一代智能型研究级光谱仪
INVENIO 的设计体现在多个方面，例如，样品室中用于方便更换附件的增强型 QuickLock 功能、用于自动识别的电子编码窗片和样品支架、用于验证与定制专用滤光器的8档滤光器轮，以及用于高灵敏度检测器或用于衰减外部光源或激光的内部 5 级自动衰减器轮。新一代电子单元内置 CPU，非常强大，并为日后各种升级与功能扩展做了铺垫。此外，INVENIO 的光学元件可随时进行多个光谱范围的升级，这样，您只需购买相应光学元件（光源、分束器和检测器）即可完成光谱范围的扩展。
二、德国布鲁克研究级傅立叶变换红外光谱仪 VERTEX
VERTEX系列傅立叶红外光谱仪集布鲁克光谱事业部40年来技术创 新与发展之大成，将红外光谱技术推向一个新的高峰。
VERTEX系列建立在完全可升级、设计高度灵活的光学平台之上，具有一系列广泛的功能，包括布鲁克人工智能网络 (BRAIN)、自动元件识别 (ACR)、即插即用以太网连接、自动附件识别功能 (AAR) 等。
VERTEX 70v 光谱仪采用 RockSolid? 长久准直高性能干涉仪，能满足从常规分析测量到优异科研领域的各种应用需求。采用 UltraScan? 真正准直砖利干涉仪的 VERTEX 80 和 VERTEX 80v 是针对业内*前沿的科研应用设计的，它具备极高的光谱分辨率、能实现目前业内*高水平的快速扫描和步进扫描测量，能在*广的光谱范围内提供**的性能。VERTEX 70v 及 VERTEX 80v 全真空系列光谱仪彻底杜绝了大气吸收对红外测量的干扰，进一步提高光谱质量。
1、 VERTEX 70系列
VERTEX70系列傅立叶红外光谱仪，采用全数字化系统，适合各种优异研发级应用。**创_新意义的设计成就了该系列谱仪优良的灵活性和**的性能。数据采集使用delta-sigma自激型数/模转换器，该转换器具备真正的24位ADC动态范围。布鲁克先进砖利技术DigiTect将此数模转换器与检测器自带的电子前置信号放大器整合到一起。*大限度地避免了外界模拟信号对光谱的干扰，确保了出色的信噪比。
全真空光学台设计
其全真空的光学设计，使VERTEX 70在中红外、近红外及远红外谱区具备*高的灵敏度，使用户无需再担心水蒸气或二氧化碳的吸收会干扰或覆盖谱图中极弱的特征信号。该真空谱仪已被广泛应用于纳米科学领域，并成功获取了亚单分子层薄膜的信息。
VERTEX FM中远红外宽谱测试功能
全新的VERTEX FM功能使VERTEX 70(v)成为世界上**台可以一次测试覆盖整个中、远红外光谱范围（即6000-80cm-1 ，真空系列可达50cm-1）的红外光谱仪。
极宽的谱区扩展
VERTEX 70系列结合不同的光学器件，使谱区可以覆盖从太赫兹15 cm-1起(VERTEX 70v 从10 cm-1起)、中红外、近红外、可见光直至紫外光区28,000 cm-1这一极宽的范围。预准直的光学器件和长久准直的RockSolidTM干涉仪，让扩展谱区和仪器维护变得更加简单快捷。
BRAIN：布鲁克人工智能系统 (Bruker Artificial Intelligence Network)
布鲁克人工智能系统（BRAIN）包含自动识别测量附件（AAR）、自动识别光学配件（ACR）、自动调用及检查测量参数，大大降低了傅立叶红外光谱测量的难度，节省了实验时间，对各种，甚至包括优异科研在内的应用领域，都是同样的便捷可靠。另外，实时在线监控系统彻底简化了对仪器工作状态和性能指标的监测工作。一体化的OPUSTM软件包将全 面支持上述功能。
即插即用：使用简便
无论何时何地，只要插上电源，连接以太网，VERTEX 70系列谱仪即可开始正常工作。该系列谱仪采用了以太网式连接，客户可以通过局域网或互联网对谱仪进行远程操控。
布鲁克公司的VERTEX 70和VERTEX 70v优异研究级傅立叶变换红外光谱仪以其**的性能和无以伦比的灵活性，成为当前常规分析应用以及**科学研究的优选。
2、 VERTEX 80系列
全新的 VERTEX 80 和真空型 VERTEX 80v 傅立叶变换红外光谱仪采用动态校准 UltraScan? 干涉仪，提供*大光谱分辨率。精 确的、真正无摩擦的空气轴承扫描仪保证了*佳的灵敏度和稳定性。
?新的UltraScanTM砖利干涉仪
VERTEX 80 及 VERTEX 80v 均采用*新的真正准直的UltraScanTM砖利干涉仪，该干涉仪可实现极高的光谱分辨率。高精度的线性气动轴承及超高质量的光学反射镜保证了仪器达到*出色的灵敏度和稳定性。VERTEX适用于各种极限条件下的研究工作，如：高分辨率测试、超快速扫描、步进扫描及UV扩展谱区的测量。布鲁克公司独特的数字化DigiTectTM数据采集砖利技术有效防止外部信号干扰，确保了优良的信噪比。
?台式真空光谱仪
VERTEX 80v 的全铸铝光学底座及全真空型光学台设计使谱仪具备了更高的稳定性。大气中的水汽吸收在真空环境下被消除，灵敏度及稳定性得到进一步提高。在远红外和太赫兹波段该特色尤为突出，并意义重大。结合*新的全自动分束器更换器（BMS-c），用户无需打断真空、通过软件控制便能实现谱区的切换和扩展。
三、 德国布鲁克研究级傅立叶变换红外光谱仪IFS 125系列
IFS125高灵敏度傅里叶红外光谱仪系列是傅立叶红外领域优异的研究工具，它是世界上分辨率极高的顶 级商用红外光谱仪。IFS 125系列光谱仪， 优化了光谱仪的每一个部件， 以实现接近理论极限的至高灵敏度。 它提供业内： 高的光谱分辨率——优于0.001cm-1， 高的谱仪分辨能力——优于106， 宽的 波 谱 范 围 ——从 远 红 外 /太 赫 兹 的 5cm - 1到 紫 外 区 域 的50,000cm-1。 车载式设计的IFS125/M红外光谱仪专门用于气体吸收的分析研究， 尤其是大气环境的气体研究及应用。
作为资 深的红外光谱仪制造厂商，布鲁克公司一直保持着世界上高的光谱分辨率和高的精度。IFS125HR傅里叶红外光谱仪光程差可以达到11.7米，是市场上一款能提供超高分辨率的红外光谱仪。 这种超高分辨率在大气研究中用于同温层痕量气体、大气中优良谱线强度、通过大气的辐射转移；在物理研究中为 数据库中的参考光谱提供高分辨振转光谱、研究低温下分子晶体、研究分子动力学、空心阴极分子发射、超低温下半导体的痕量杂质和磁电效应等基础研究。
四、 德国BRUKER 布鲁克CryoSAS超低温硅的质量控制系统
CryoSAS超低温硅测试分析系统是半导体材料质量控制专用机型，主要应用在光伏和电子工业领域超低温硅分析控制。针对光电和半导体工业领域超高灵敏度和较低温度的严苛要求， 布鲁克公司特别设计的超低温PL光致发光测试系统和CryoSAS超低温硅测试分析系统无疑是行业内无以伦比的领军产品。 PL用于III-V族中痕量杂质的测定， 硼和磷的*低检测极限可以达到1ppta。 而CryoSAS也已经成为全球硅生产行业专用测试仪器的金 标准。
CryoSAS超低温硅测试分析系统傅里叶拉曼光谱仪是一款全自动超低温硅分析系统， 用于太阳能电池级硅和电子级硅中的杂质定量分析。根据ASTM/SEMI等国际标准， CryoSAS可以定量测试硅中碳、氧以及其他痕量杂质（如硼、 磷和砷等）。与经典的化学方法相比， 这种方法灵敏度更高， 测量更快捷， 而且不破坏样品， 仪器操作简单，不需要液氦， 符合现代高效质量控制的要求。
?半导体专用分析光谱仪CryoSAS
CryoSAS是布鲁克光谱公司生产的专门用于硅材料分析的一体化的低温检测系统。
CryoSAS上乘地将高性能的布鲁克FT-IR光谱技术与现代化与方便实用的低温闭循环致冷系统结合在一起，摆脱了通常进行高灵敏度检测时对液氦的依赖。CryoSAS的全部组件都采用了先进的一体化和人性化的结构设计理念，使得这样的系统能够适应硅材料生产中的不同使用环境。
五、 德国布鲁克研究级傅立叶变换红外光谱仪SiBrickScan
SiBrickScan (SBS)，**款at-line FTIR仪器，它可以定量分析硅锭的氧填隙原子。该系统使得硅晶片生产商超前迈进了一大步。不像之前的方法，SBS无需样品前处理，可直接进行检测。
